参考文献

リートベルト法、パターン分解、MPF 法、MEP 法を含む粉末回折データの解析技術と三次元可視化については、長年にわたり多くの雑誌、書籍、報告書に発表してきました。それらの内、高温超伝導体の構造解析を除く文献を以下に列挙します。

  1. 泉 富士夫, "Ｘ線および中性子回折図形の Rietveld 解析システム", 日本結晶学会誌, 27, 23–31 (1985).
  2. 泉 富士夫, "Ｘ線および中性子回折図形の Rietveld 解析", 鉱物学雑誌, 17, 37–50 (1985).
  3. 泉 富士夫, "粉末回折のルネサンス ― Rietveld 法とその周辺技術", 現代化学, No. 180, 54–60 (1986).
  4. F. Izumi, H. Asano, H. Murata, and N. Watanabe, "Rietveld analysis of powder patterns obtained by TOF neutron diffraction using cold neutron sources", J. Appl. Crystallogr., 20, 411–418 (1987).
  5. 泉 富士夫, "粉末Ｘ線回折パターンのシミュレーション", セラミックス (CERAMICS JAPAN), 23, 557–560 (1988).
  6. F. Izumi, "A Software Package for the Rietveld Analysis and Simulation of X-Ray and Neutron Diffraction Patterns", Rigaku J., 6, No. 1, 10–19 (1989).
  7. 泉 富士夫, "リートベルト法による結晶構造の精密化", 応用物理, 59, 2–17 (1990).
  8. 泉 富士夫, "RIETAN — 今日まで、そして明日から", 理学電機ジャーナル, 22, No. 1, 16–27 (1991).
  9. 泉 富士夫, "リートベルト法", 日本結晶学会誌, 34, 76–85 (1992).
  10. Y.-I. Kim and F. Izumi, "Structure Refinements with a New Version of the Rietveld-Refinement Program RIETAN", J. Ceram. Soc. Jpn., 102, 401–404 (1994).
  11. 泉 富士夫, "リートベルト解析雑録", マック・サイエンス技報, 7, No. 1, 15–24 (1994).
  12. F. Izumi, "The Rietveld Method", ed. by R. A. Young, Oxford University Press (1995), Chap. 13.
  13. 泉 富士夫, "第2世代のリートベルト解析プログラム RIETAN-94", "セラミックデータブック ’95", セラミックデータブック編集委員会編, 工業製品技術協会 (1995), pp. 154–159.
  14. F. Izumi, "Applications of Synchrotron Radiation to Materials Analysis", ed. by H. Saisho and Y. Gohshi, Elsevier, Amsterdam (1996), Chap. 7.
  15. 泉 富士夫, "二つの RIETAN — プログラム開発余話", 理学電機ジャーナル, 27, No. 1, 18–33 (1996).
  16. 池田卓史, 泉 富士夫, "特性Ｘ線粉末回折による構造解析の限界に挑む", マック・サイエンス技報, 10, No. 1, 22–34 (1998).
  17. F. izumi, "Recent Advances in the Rietveld-Analysis Program Rietan", Commission on Powder Diffraction, IUCr Newsletter No. 20, 22–23 (1998).
  18. 泉 富士夫, "結晶解析ハンドブック", 日本結晶学会・同ハンドブック編集委員会編, 共立出版 (1999), pp. 492–499.
  19. 泉 富士夫, 池田卓史, 熊澤紳太郎, "部分プロファイル緩和と最大エントロピー法を導入した粉末構造解析", 鉱物学雑誌, 28, 57–63 (1999).
  20. 泉 富士夫, "統合パターン・フィッティングシステム RIETAN-2000 を語る", 波紋, 10, 21–31 (2000).
  21. 泉 富士夫, 池田卓史, "多目的パターン・フィッティングシステム RIETAN-2000 とその微細孔物質への応用", 日本結晶学会誌, 42, 516–521 (2000).
  22. 泉 富士夫, 大橋直樹, "結晶の世界への応用（Ⅲ）― 粉末回折データを用いた構造の精密化", セラミックス (CERAMICS JAPAN), 35, 1055–1064 (2000).
  23. F. Izumi, "Rietveld Analysis and MEM-Based Whole-Pattern Fitting under Partial Profile Relaxation", Rigaku J., 17, No. 1, 34–45 (2000).
  24. 泉 富士夫, "多目的パターン・フィッティングシステム RIETAN-2000 ユーザーガイド", 理学電機ジャーナル, 31, No. 2, 17–29 (2000).
  25. F. izumi and T. Ikeda, "Beyond the abilities of Rietveld analysis: MEM-based pattern fitting with synchrotron X-ray powder diffraction data", Commission on Powder Diffraction, IUCr Newsletter No. 26, 7–9 (2001).
  26. "粉末Ｘ線解析の実際 ⏤ リートベルト法入門", 日本分析化学会 Ｘ線分析研究懇談会編, 中井 泉, 泉 富士夫編著, 朝倉書店 (2002).
  27. 泉 富士夫, 池田卓史, "RIETAN-2000 を活用した未知構造と不規則構造の解析", 日本結晶学会誌, 44, 30–34 (2002).
  28. 泉 富士夫, "RIETAN 徹底活用ガイド (1) 入出力ファイル", 日本結晶学会誌, 44, 246–254 (2002).
  29. 泉 富士夫, "RIETAN 徹底活用ガイド (2) 粉末回折データから得られる情報", 日本結晶学会誌, 44, 311–317 (2002).
  30. 泉 富士夫, "RIETAN 徹底活用ガイド (3) 電子・原子核密度分布の三次元可視化", 日本結晶学会誌, 44, 380–388 (2002).
  31. 泉 富士夫, "セラミック工学ハンドブック", 第2版, 日本セラミックス協会編, 技報堂出版 (2002), 基礎 第4編3.
  32. F. Izumi and R. A. Dilanian, "Recent Research Developments in Physics", Vol. 3, Part II, ed. by S. G. Pandalai, Transworld Research Network, Trivandrum (2002), pp. 699–726.
  33. Y. Xiao, F. Izumi, T. Graber, P. J. Viccaro, and D. E. Wittmer, "Update in a Rietveld analysis program for X-ray powder spectro-diffractometry", Powder Diffr., 18, 32–35 (2003).
  34. F. Izumi, "Development and Applications of the Pioneering Technology of Structure Refinement from Powder Diffraction Data", J. Ceram. Soc. Jpn., 111, 617–623 (2003).
  35. F. Izumi "Beyond the ability of Rietveld analysis: MEM-based pattern fitting", Solid State Ionics, 172, 1–6 (2004).
  36. 泉 富士夫, "結晶構造と電子状態の三次元可視化システム VENUS", リガクジャーナル, 36, No. 1, 18–27 (2005).
  37. F. izumi and R. A. Dilanian, "VENUS: a 3D Visualization System for Crystal Structures and Electron/Nuclear Densities", Commission on Powder Diffraction, IUCr Newsletter No. 32, 59–63 (2005).
  38. 泉 富士夫, "実験化学講座 11 物質の構造 III 回折", 第5版, 日本化学会編, 丸善 (2006), 4章.
  39. 泉 富士夫, 河村幸彦, "飛行時間型粉末中性子回折データの最大エントロピー法解析による原子核密度の三次元可視化", 分析化学, 55, 391–395 (2006).
  40. K. Momma and F. izumi, "An integrated three-dimensional visualization system VESTA using wxWidgets", Commission on Crystallographic Computing, IUCr Newsletter No. 7, 106–119 (2006).
  41. F. Izumi and K. Momma, "Three-dimensional visualization in powder diffraction", Solid State Phenom., 130, 15–20 (2007).
  42. 泉 富士夫, "計算シミュレーションと分析データ解析", 日本表面科学会編, 丸善 (2008), 6･1･1.
  43. K. Momma and F. Izumi, "VESTA: a three-dimensional visualization system for electronic and structural analysis", J. Appl. Crystallogr., 41, 653–658 (2008).
  44. 泉 富士夫, 門馬綱一, "新世代システム RIETAN-FP・VESTA への招待", セラミックス (CERAMICS JAPAN), 43, 902–908 (2008).
  45. "粉末Ｘ線解析の実際", 第2版, 中井 泉, 泉 富士夫編著, 朝倉書店 (2009).
  46. 泉 富士夫, "リートベルト法と MEM に基づくパターンフィッティングによる中性子回折データの解析", RADIOISOTOPES, 59, 191–200 (2010).
  47. 泉 富士夫, 門馬綱一, "構造精密化・三次元可視化システム RIETAN-FP・VENUS による磁気構造と核密度分布の解析", J. Vac. Soc. Jpn., 53, 706–712 (2010).
  48. 門馬綱一, 泉 富士夫, "鉱物科学における三次元可視化システム VESTA の応用", 岩石鉱物科学, 39, 136–145 (2010).
  49. F. Izumi and K. Momma, "Three-dimensional visualization of electron- and nuclear-density distributions in inorganic materials by MEM-based technology", IOP Conf. Ser.: Mater. Sci. Eng., 18, 022001 (2011).
  50. T. Ida and F. Izumi, "Application of a theory for particle statistics to structure refinement from powder diffraction data", J. Appl. Crystallogr., 44, 921–927 (2011).
  51. K. Momma and F. Izumi, "VESTA 3 for three-dimensional visualization of crystal, volumetric and morphology data", J. Appl. Crystallogr., 44, 1272–1276 (2011).
  52. 門馬綱一, 泉 富士夫, "次世代三次元可視化プログラム VESTA 3", 日本結晶学会誌, 54, 119–120 (2012).
  53. T. Ida and F. Izumi, "Analytical method for observed powder diffraction intensity data based on maximum likelihood estimation", Powder Diffr., 28, 124–126 (2013).
  54. K. Momma, T. Ikeda, A. A. Belik, and F. Izumi, "Dysnomia, a computer program for maximum-entropy method (MEM) analysis and its performance in the MEM-based pattern fitting", Powder Diffr., 28, 184–193 (2013).
  55. 河村幸彦, 門馬綱一, 泉 富士夫, "粉末回折データの MEM 解析・三次元可視化用ソフトウェアの開発", 波紋, 23, 66–71 (2013).
  56. 泉 富士夫, "日本の結晶学 (Ⅱ) — その輝かしい発展 —", 日本結晶学会編 (2014), pp. 20–21.
  57. F. Izumi and T. Ikeda, "Implementation of the Williamson–Hall and Halder–Wagner Methods into RIETAN-FP", Annu. Rep., Adv. Ceram. Res. Center, Nagoya Inst. Technol., 3, 33–38 (2014).
  58. 河村幸彦, 泉 富士夫, "CO ハイドレートにおけるゲスト分子の不規則配置", 波紋, 25, 22–25 (2015).
  59. 泉 富士夫, "粉末回折データから得られた構造精密化結果の LaTeX 文書化", 先進セラミックス研究センター年報, 5, 57–60 (2016).
  60. 泉 富士夫, "RIETAN-FP・VENUS システムと外部プログラムによる粉末構造解析 — 1. RIETAN-FP・VENUS システムと統合支援環境 —", まてりあ (Materia Japan), 56, 393–396 (2017).
  61. 泉 富士夫, "RIETAN-FP・VENUS システムと外部プログラムによる粉末構造解析 — 2. リートベルト解析とパターン分解 —", まてりあ (Materia Japan), 56, 453–457 (2017).
  62. 泉 富士夫, "RIETAN-FP・VENUS システムと外部プログラムによる粉末構造解析 — 3. 構造モデルの導出と電子・散乱長密度の三次元可視化 —", まてりあ (Materia Japan), 56, 503–507 (2017).
  63. 泉 富士夫, 宮崎晃平, "CIF を出発点とする第一原理計算支援用ユーティリティー", セラミックス (CERAMICS JAPAN), 54, 473–476 (2019).
  64. "粉末Ｘ線解析の実際", 第3版, 中井 泉, 泉 富士夫編著, 朝倉書店 (2021).

文献 [1—38] は RIETAN-2000 以前の時代に執筆しましたが、RIETAN-FP を使う際にも役立つでしょう。事実、RIETAN-FP の英文マニュアル（RIETAN-FP_manual,pdf）は文献14をベースとして執筆しました。

一方、「粉末Ｘ線解析の実際」 [45, 64] は同名の日本結晶学会講習会のテキストとして RIETAN-FP, ORFFE, VENUS（PRIMA/Dysnomia, ALBA、VESTA）の利用を前提に編集・執筆しました。リートベルト・MEM 解析に必要不可欠な結晶学の基礎について詳述しているため、RIETAN-FP・VENUS システムを徹底活用するための必携書といって過言でありません。粉末Ｘ線回折はマーケットがかなり大きいので、理工系専門書としてはかなりの部数を売り上げています。

Dysnomia に関する論文 [54] では粉末Ｘ線回折データの MPF 解析例三つを詳しく記述しました。日本金属学会会報「まてりあ」の入門講座 [60—62] は最新の RIETAN-FP・VENUS 統合支援環境を利用した粉末回折データの解析を略述しています。

RIETAN-FP は VESTA との有機的連携を念頭に置いて開発しました。VESTA の概要は文献 [40, 43, 44, 51, 52] で紹介しています。 文献 [51] の驚異的な被引用数についてはブログエントリー「NIMS 発の論文で被引用数トップの地位を確立！」をお読み下さい。

シェルスクリプト cifconv.command [63] は RIETAN-FP・VENUS システムとは無関係のように見えるかもしれませんが、複数相の CIF をリートベルト解析用の入力ファイルに変換するだけでなく、MADEL でサイト・ポテンシャルとマーデルング・エネルギーを計算する機能を備えています。cifconv.command は CIF に関係するユーティリティーが充実している RIETAN-FP・VENUS システムを補完する役割を果たしてくれます。これほど長いスクリプトをゼロから書く力が残っていたのには、我ながら驚きました。